半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

903141000 Β· HS编码结构

90 31 41 00 0
类 2位
光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器及び医療用機器並びにこれらの部分品及び附属品
第18部 - 光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器、医療用機器、時計及び楽器並びにこれらの部分品及び附属品
項 4位
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機
号 6位
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
统计细分 8位
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

最后 2 位为附加码

基本信息
HS Code
903141000
编码状态
正常
更新日期
2026-01-08
Description
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
Unit
Rate of Duty (税率)
General (基本) η„‘η¨Ž
Temporary (暂定)
WTO (η„‘η¨Ž)
GSP (特惠)
LDC (特别特惠)
RCEP China η„‘η¨Ž
CPTPP η„‘η¨Ž
更多EPA协定税率（如东盟、新加坡、澳大利亚等）请参考官方文档