半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

903141000 Β· HSコード構造

90 31 41 00 0
類 2桁
光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器及び医療用機器並びにこれらの部分品及び附属品
第18部 - 光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器、医療用機器、時計及び楽器並びにこれらの部分品及び附属品
項 4桁
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機
号 6桁
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
統計細分 8桁
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

最後の 2 桁は追加コードです

基本情報
HS Code
903141000
コードステータス
正常
更新日
2026-01-08
Description
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
Unit
Rate of Duty（税率）
General（基本） η„‘η¨Ž
Temporary（暫定）
WTO (η„‘η¨Ž)
GSP（特恵）
LDC（特別特恵）
RCEP China η„‘η¨Ž
CPTPP η„‘η¨Ž
その他のEPA協定税率（ASEAN、シンガポール、オーストラリアなど）は公式ドキュメントをご参照ください