半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

903141000 Β· HS Code Structure

90 31 41 00 0
Section 2-digit
光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器及び医療用機器並びにこれらの部分品及び附属品
第18部 - 光学機器、写真用機器、映画用機器、測定機器、検査機器、精密機器、医療用機器、時計及び楽器並びにこれらの部分品及び附属品
Item 4-digit
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機
Subheading 6-digit
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
Statistical Subdivision 8-digit
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

The last 2 digits are the additional code

Basic Information
HS Code
903141000
Code Status
Normal
Update Date
2026-01-08
Description
半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
Unit
Rate of Duty
General (Basic) η„‘η¨Ž
Temporary (Provisional)
WTO (η„‘η¨Ž)
GSP (Preferential)
LDC (Special Preferential)
RCEP China η„‘η¨Ž
CPTPP η„‘η¨Ž
For more EPA preferential tariff rates (e.g., ASEAN, Singapore, Australia), please refer to the official documentation