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缺陷
测试仪
9022199020
[税目]
X射线晶圆制造厚度测量设备
13%
A
M
详情
表面
缺陷
检测设备
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
表面
缺陷
检测系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
表面
缺陷
检测仪
第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
9027500000
[税目]
使用光学射线的其他仪器及装置 [光学射线是指紫外线、可见光、红外线]
13%
6
详情
9027509090
[税目]
其他使用光学射线的其他仪器及装置 [光学射线是指紫外线、可见光、红外线]
13%
6
详情
表面
缺陷
仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
芯片
缺陷
检测仪
9031809090
[税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
13%
详情
缺陷
检测仪
第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
9031809090
[税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
13%
详情
太阳能
缺陷
检测仪
9031809090
[税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
13%
详情
太阳能组件
缺陷
测试仪
9031809090
[税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
13%
详情
缺陷
检测台
9031200090
[税目]
其他试验台
13%
详情
光学
缺陷
检测系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
薄膜
缺陷
检测机
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
模拟
缺陷
检测仪
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
晶体空位
缺陷
检测
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
表面
缺陷
检测机
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
暗场
缺陷
检测设备
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
晶片
缺陷
分析仪
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
薄膜
缺陷
检测设备
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
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