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传感器(用于制造半导体器件设备等通用传感器,品 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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终点探测器,制造半导体器件的干法刻蚀机用,LAM牌,利用光学波长来侦测等离子蚀刻的终点 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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