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90314100

制造半导体器件时检验半导体晶片、器件或检测光掩模或光栅用

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测试仪 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
视觉测试仪 9031410000 [税目]
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噪音测试仪 9031410000 [税目]
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老化测试仪 9031410000 [税目]
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光致发光测试仪 9031410000 [税目]
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离线EL测试仪 9031410000 [税目]
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太阳能电池量子效率测试仪 9031410000 [税目]
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硅片几何参数测试仪 9031410000 [税目]
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膜厚测试仪 9031410000 [税目]
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太阳能电池效能测试仪/旧 9031410000 [税目]
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探针测试仪(旧) 9031410000 [税目]
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颗粒度测试仪 9031410000 [税目]
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稳定度测试仪(旧) 9031410000 [税目]
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平整度测试仪 9031410000 [税目]
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金线拉力测试仪 9031410000 [税目]
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量子效率测试仪(旧) 9031410000 [税目]
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硅片厚度测试仪 9031410000 [税目]
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少子寿命测试仪(旧) 9031410000 [税目]
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太阳能组件测试仪 9031410000 [税目]
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半导体加工测试仪 9031410000 [税目]
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