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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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太阳仿真器测试器
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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多通道侦测器
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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led太阳仿真器测试器
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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图像套准测量仪升降装卸器
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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半导体检测仪（旧）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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CCD影像机（光学检测模组）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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阳光模拟器（太阳能组件IV测试）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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膜厚测试仪（旧）/测量晶圆表面膜厚
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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