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90314100

制造半导体器件时检验半导体晶片、器件或检测光掩模或光栅用

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光学测试治具 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
测试机 9031410000 [税目]
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测试机(修理费) 9031410000 [税目]
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亮度测试机(维修费) 9031410000 [税目]
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亮度测试机 9031410000 [税目]
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LD测试装置 9031410000 [税目]
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半导体测试机组件 9031410000 [税目]
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半导体测试机(旧) 9031410000 [税目]
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PSS测试系统 9031410000 [税目]
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薄膜厚度测试系统 9031410000 [税目]
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半导体加工测试机 9031410000 [税目]
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PCB测试设备 9031410000 [税目]
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太阳仿真器测试器 9031410000 [税目]
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在线光致发光测试模组 9031410000 [税目]
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芯片高光测试单元 9031410000 [税目]
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半导体器件测试机, 9031410000 [税目]
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缺陷测试设备 9031410000 [税目]
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激光器芯片老化测试装置用测试箱 9031410000 [税目]
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可焊性测试机 9031410000 [税目]
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套刻精度测试机 9031410000 [税目]
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