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90314

其他光学仪器及器具:

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数显表 DROII-2L 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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数显箱DROII-2L 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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漏光检测系统 SC-L-1-502-102 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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L-730CF精密激光光学准直系统 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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AOI光学检测仪(5M) MIRTECH AOI MV-3L(5M) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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AOI光学检测仪(2M) MIRTECH AOI MV-3L(2M) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备通用传感器,品 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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轮廓仪;测试物体表面的轮廓;测试表面颗粒高度及颗粒之间的间距;SENSOFAR-TECH,S.L. 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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测试机(旧),用于测试集成电路,AGILENT牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:E6978B,技术参数:220V,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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测试机(旧),用于测试集成电路,CREDENCE牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:QUARTET ONE,技术参数:220V,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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检测器(用于光电检测,仪器用零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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