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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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激光二极管测试系统电源
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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激光能量测量器(品牌GENTEC,激光钻孔加工系统用,通过射入的激光经光电转换为电压信号输出到系统,系统通过电压数值计算出激光能量)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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I-V测试系统
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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激光二极管测试系统电源(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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轮廓投影仪/品牌:NIKON,型号:V-20B
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9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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13%
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详情
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宽频段光电探测系统(品牌:Labsphere)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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轮廓投影仪,用途:测量加工工件外观尺寸,品牌:NIKON,原理:光学投影,检测对象:加工工件
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9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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13%
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详情
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图像检测系统 SC-V-S-2-101
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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双通道FLIM系统/型号:steREO Discovery V.20
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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2A级太阳光模拟器及I-V测试系统
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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高精度三维表面测量仪系统(品牌:TAYLOR HOBSON)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光电传感器(品牌:SALVAGNINI,用途:检测物体信息用,功能:将检测到的光信号转换为电信号输出至数控系统,无测试结果显示)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光信号传感器(品牌ESI,激光钻孔加工系统用零件,用于感
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光信号传感器(品牌ESI,激光钻孔加工系统用零件,用于
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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感应器(品牌ROCHE,通过光线变化感应位置,罗氏全自动样本处理系统,无测试结果,无显示指标)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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轮廓投影仪,用途:测量聚酯树脂的尺寸,包括变形尺寸的测量,品牌:MITUTOYO,功能:通过该仪器可以看到放大后的被测物体,该仪器同时可以选择被测物的端末点,并计算出端末点的尺寸,型号:PJ-A3010F-200,有无测试结果显示:可以显示测量结果,显示何种指标:显示所测物的长度值
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9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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13%
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探针台/无品牌
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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小动物活体成像系统
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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检测系统
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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