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90314

其他光学仪器及器具:

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晶片表面清洁度分析仪 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
洁净度检测仪,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情