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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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望远镜优化测试系统;通过波阵面比较得到参数;SpotOptics;波前测量得到所需参数
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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轮廓投影仪,用途:测量聚酯树脂的尺寸,包括变形尺寸的测量,品牌:MITUTOYO,功能:通过该仪器可以看到放大后的被测物体,该仪器同时可以选择被测物的端末点,并计算出端末点的尺寸,型号:PJ-A3010F-200,有无测试结果显示:可以显示测量结果,显示何种指标:显示所测物的长度值
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9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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13%
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