|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,塑料制
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,钢铁制
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
基准片,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,NANO牌
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光孔(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,铝制,用于一部分可见光射入,已制成特殊形状)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
遮光器,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,光路切换用
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
挡光片(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,铝制,用于阻挡部分可见光,已制成特殊形状)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光路对准件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,铝制,中间有特殊直径光孔用于对准激光光路位置)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光孔(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,不锈钢制,用于一部分可见光射入,已制成特殊形状)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
支撑件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,铝合金制,机台内支撑平台用,已制成特殊形状)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光路对准件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,铝合金制,上面带特殊形状的光孔用于对准光路位置)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
种子和针叶图像分析系统;对种子和针叶进行形态学和疾病分析的图像分析;使用带有特殊照明系统的高质量图形扫描仪,将针叶或种子的资料数字化;对种子和针叶进行形态学和疾病分析;REGENT
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|