|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
外延炉光学监测传感器
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
位置传感器(品牌:ASM,制造晶片的外延炉专用零件,通过
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
外延炉光学在位监测传感器
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
位置传感器(品牌:ASM,通过光电原理感应晶片是否到指定位置,制造晶片的外延炉用零件)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片探测器
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
晶圆吸附器(ASML,不锈钢制,利用真空吸附原理使硅片吸附在硅片平台上,以检测晶圆曝光质量,硅片晶圆检测仪专用零件,无测试结果,不显示指标)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
固定板(ASML,硅片线宽测量仪专用零件,起到将测量仪固定支撑在测量平台上的作用)
|
9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片测试分析仪
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片轮廓投影仪
|
9031491000 [税目]
轮廓投影仪
|
13%
|
|
|
详情
|
|
半导体硅片检查仪
|
9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片校准器
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片方阻仪
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片颗粒检测仪
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片台阶测量仪
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片几何参数测试仪
|
9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片厚度测试仪
|
9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
太阳能硅片测试仪
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
硅片少子寿命测试仪
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光致发光硅片测试仪
|
9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
位置传感器(ASML,通过电磁感应原理感应来确定硅片平台运动位置,未装有读数装置,光刻机专用零件)
|
9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|