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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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三分量力测试系统（测量样品运动时所受的瞬时压力）
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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列车牵引系统型式试验台(品牌:NIDEC,用于测试地铁上所
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9031200090 [税目]
其他试验台
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13%
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望远镜优化测试系统;通过波阵面比较得到参数;SpotOptics;波前测量得到所需参数
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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位置传感器(品牌:安捷伦,气相色谱仪用零件,用于感应和传输测量仪所测得的样品位置信号)
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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温度补偿组件(适用于三坐标测量机,利用正温度系统和负温度系统数的电子元件计算由温度变化导致的工件形状变化,补偿测量中所引起的误差,测试结果显示于CALYPSO测量软件中,数字指标,ZEISS)
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9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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轮廓投影仪,用途:测量聚酯树脂的尺寸,包括变形尺寸的测量,品牌:MITUTOYO,功能:通过该仪器可以看到放大后的被测物体,该仪器同时可以选择被测物的端末点,并计算出端末点的尺寸,型号:PJ-A3010F-200,有无测试结果显示:可以显示测量结果,显示何种指标:显示所测物的长度值
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9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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13%
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