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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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半导体器件参数测量仪器 9030820000 [税目]
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电子元件测量仪器 9030820000 [税目]
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元器件参数测量仪器 9030820000 [税目]
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元件参数测量仪器 9030820000 [税目]
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被动元件测试仪器 9030820000 [税目]
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晶体行业测试仪器 9030820000 [税目]
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半导体器件与电路测试仪器 9030820000 [税目]
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电子基板测试仪器 9030820000 [税目]
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