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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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无独立使用功能半导体测试 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
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检测半导体晶片或器件仪器 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
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半导体测试分选 9030820000 [税目]
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半导体在线测试 9030820000 [税目]
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半导体元器件测试 9030820000 [税目]
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半导体二极管测试 9030820000 [税目]
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半导体测试 9030820000 [税目]
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半导体芯片测试 9030820000 [税目]
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半导体机柜测试(旧) 9030820000 [税目]
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半导体晶圆测试 9030820000 [税目]
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快速半导体参数测试 9030820000 [税目]
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半导体老化板测试(旧) 9030820000 [税目]
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半导体电特性测试(旧) 9030820000 [税目]
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半导体二极管测试 DIODE TESTER 9030820000 [税目]
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快速半导体参数测试(维修费) 9030820000 [税目]
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半导体金线焊接测试 9030820000 [税目]
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半导体综合特性测试/旧 9030820000 [税目]
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半导体综合特性测试(旧) 9030820000 [税目]
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半导体测试仪 9030820000 [税目]
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测试(集成电路专用) 9030820000 [税目]
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