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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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放电测试仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
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半导体放电测试仪 9030820000 [税目]
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光敏测试机 9030820000 [税目]
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测试机含配件 9030820000 [税目]
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绝缘测试仪(旧 9030820000 [税目]
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IS测试仪(旧 9030820000 [税目]
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IS测试仪(旧/修理费 9030820000 [税目]
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电性能测试仪(旧 9030820000 [税目]
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硅片边缘测试仪(旧 9030820000 [税目]
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硅片厚度测试仪(旧 9030820000 [税目]
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引线绝缘测试仪(旧 9030820000 [税目]
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表面检测仪(旧 9030820000 [税目]
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测试系统(标配 9030820000 [税目]
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自动测试机(旧 9030820000 [税目]
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OCXO频率测试系统(旧 9030820000 [税目]
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相位噪声测试系统(旧 9030820000 [税目]
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发光二极管用测试仪(旧 9030820000 [税目]
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半导体晶片自动测试仪(旧 9030820000 [税目]
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Eagle半导体晶片测试仪器(旧 9030820000 [税目]
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集成电路测试机(成套散件 9030820000 [税目]
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