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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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半导体制冷器检测仪 9030820000 [税目]
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机械制冷晶体温度特性测试系统 9030820000 [税目]
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测定装置 9030820000 [税目]
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半导测试装置 9030820000 [税目]
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芯片性能测试装置 9030820000 [税目]
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无线通讯芯片测试装置 9030820000 [税目]
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X线检查装置 9030820000 [税目]
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半导体检测装置 9030820000 [税目]
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半导体晶片检测装置 9030820000 [税目]
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自动DLD检查装置 9030820000 [税目]
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芯片检测装置 9030820000 [税目]
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防雷器检测装置 9030820000 [税目]
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电偶检定装置 9030820000 [税目]
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二极管电性能检查装置 9030820000 [税目]
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亚毫米波测试仪/带记录装置 9030820000 [税目]
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集成电路及原片测试分析装置 9030820000 [税目]
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图示仪(不带记录装置) 9030820000 [税目]
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连续式温度特性检查装置 9030820000 [税目]
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半导体晶片检测用探头装置 9030820000 [税目]
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半导体器件分析仪/带记录装置 9030820000 [税目]
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