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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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半导体参数测试系统 9030820000 [税目]
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芯片参数测试设备 9030820000 [税目]
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静态参数测试机 9030820000 [税目]
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快速半导体参数测试机 9030820000 [税目]
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SBTEK测试平台 9030820000 [税目]
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TSE测试平台 9030820000 [税目]
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芯片手动测试平台 9030820000 [税目]
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光学检漏测试系统 9030820000 [税目]
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快速半导体参数测试机（维修费） 9030820000 [税目]
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半导体晶圆特性参数测试设备 9030820000 [税目]
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背板电性能和光学测试设备 9030820000 [税目]
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低泄漏开关;测量半导体晶圆上必要参数;对半导体器件进行测试;AGILENT 9030820000 [税目]
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半导体器件电气参数测试仪 9030820000 [税目]
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半导体器件直流电参数测试仪 9030820000 [税目]
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静态参数测试仪 9030820000 [税目]
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动态参数测试仪 9030820000 [税目]
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电子元器件参数测试仪 9030820000 [税目]
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可控硅综合参数测试仪 9030820000 [税目]
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电子变压器参数测试仪 9030820000 [税目]
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晶闸管综合参数测试仪 9030820000 [税目]
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