|
|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
电路状态数控检查机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
高压测试机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
脉冲测试机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
旧W427测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
四合一测试机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线圈高压测试机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电阻量测机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
阻值测试机(旧,2010年)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
阻值检测机(旧,2010年)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
功能测试机(有记录装置)(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
旧高压测试机,原价USD7300/台
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
通用功能测试机（旧）
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电性自动测试机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
促动器专用测试机（旧）
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
耐压测试仪(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线缆测试仪(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电路板测试仪(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
随钻电阻测试仪(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
通用电源测试仪(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
旧静电压测试仪
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|