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9030

示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括税目90.28的各种仪表;α射线、β射线、γ射线、Χ射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置:

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
晶片测试仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
测试传送治具 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件 		13% 详情
信号传送器 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件 		13% 详情
晶片测试版 9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件 [包括附件] 		13% 详情
晶片测试板 9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件 [包括附件] 		13% 详情
晶片测试机 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半自动晶片测试台 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体晶片测试设备 9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器 [用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外] 		13% 详情
半导体晶片测试板 9030900090 [税目]
品目9030所属货品的零件及附件 		13% 详情
晶片检测系统 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
晶片探测系统 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体晶片检测装置 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
晶片表面颗粒扫描仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
晶片厚度测量仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
晶片探针测试仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体晶片测试台 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
晶片电阻检测仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体晶片探测器 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
石英晶片频率测试仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体晶片测试仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情