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90314

其他光学仪器及器具:

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平面度检测机 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
光泽度检测设备 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
焦度计 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
平面度检测装置 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
颗粒度测试仪 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
翘起度测试仪器 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
稳定度测试仪(旧) 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
平整度测试仪 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
激光平面度测试仪 9031499090 [税目]
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光学平整度测试仪 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测仪用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
焦度计SC-410 9031499090 [税目]
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激光平坦度测试机 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
光线均匀度测试机 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
平面度检测机主体 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
平面度测试仪/TROPEL牌 9031499090 [税目]
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纤维细度长度测试仪 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
洁净度检测仪,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
SC-410手动焦度计 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情
接触式表面平整度检测装置 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的] 		13% 详情