过滤过期编码

在"90314"里共167个搜索结果:

90314

其他光学仪器及器具:

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
光信号感测器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,由光电传感器,电路板,和外壳组成,传感器感测光信号,通过电路板转换成机台可识别的电信号) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13% 详情
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
13% 详情
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
13% 详情
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
13% 详情
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
13% 详情
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
13% 详情
光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13% 详情