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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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高速自动故障评估机/不带记录装置/测试电流及电压
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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电阻表(品牌TEL,用于测量电气设备的绝缘电阻,不带记录
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9030332000 [税目]
不带记录装置的电阻测试仪
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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详情
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五位半及以下的数字电流、电压表,不带记录装置
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9030331000 [税目]
不带记录装置的五位半及以下的数字电流、电压表
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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详情
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检测电压、电流及功率的其他仪器,不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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高电压测试仪(旧)/LEM牌/Unilap ls0/不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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电极电阻测试仪;BAK;测试电极质量;电生理实验;带记录装置
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9030332000 [税目]
不带记录装置的电阻测试仪
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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详情
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以太网供电测试仪/测试电流电压用/不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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详情
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(旧)耐压测试仪/(九成新)不带记录装置KIKUSUI
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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详情
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(旧)耐压测试仪(九成新)不带记录装置KIKUSUI
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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汽车音频信号分析系统;R&S;测试车载广播信号,功放,喇叭的音频性能;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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可编程直流电测量仪;测量电流,电压,功率等电子元器件;Chroma;用于实验室电子测量;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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高性能功率分析仪;YOKOGAWA;产品电参数性能测试;测量电压,电流,功率等电参数值;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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高性能功率分析仪;YOKOGAWA;产品电参数性能测试;测量电压,电流,功率等电参数;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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电压测量仪(用于半导体设备,不带记录装置,品牌LEVANON,测量电压的大小,无测试结果显示,检测对象是半导体设备电路电压)
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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传感器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机内部,功能是功率感应及检测,不带记录装置,品牌AE,没有测试结果显示)
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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高性能功率分析仪;汽车控制器的电参数性能评估用;测量功率,电压,电流等;YOKOGAWA;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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电流传感器;用于DC和AC电流的测量;YOKOGAWA;将电流传感器连接至WT系列功率计供测量用;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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可编程交流电测量仪;Chroma;提供精确且快速的电力参数的量测,测量电流、电压、功率等电子元器件;用于实验室测量;不带记录装置
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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漏电电流钩表
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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交流钩表
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9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
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13%
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