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903149
(536)
在"90314"里共567个搜索结果:
90314
其他光学仪器及器具:
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颗粒色彩调配
分析
仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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植物冠层
分析
仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与
系统
预设之标准图片自行
分析
比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
全自动
表贴式LED测试分类机
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
详情
全自动
高温晶圆应力检测装置
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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双轨道高速
全自动
光学检查机
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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LED
全自动
高速测试机/旧
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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全自动
喷丝板检测仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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全自动
晶圆微观缺陷检测设备
9031410000
[税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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全自动
数控活塞环光密封检测设备
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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全自动
平坦度翘曲测试仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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干涉仪
系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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小动物活体成像
系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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检测
系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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测厚
系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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视觉
系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
13%
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波导
系统
打火检测
系统
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光束质量
分析
仪 Beam Profiler
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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超高速智能粒度
分析
仪(品牌:Malvern)
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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液相稳定度
分析
仪
9031499090
[税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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