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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测仪用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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激光能量测量器(品牌GENTEC,激光钻孔加工系统用,通过射入的激光经光电转换为电压信号输出到系统,系统通过电压数值计算出激光能量)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光信号感测器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,由光电传感器,电路板,和外壳组成,传感器感测光信号,通过电路板转换成机台可识别的电信号)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光学位移感应器(组成结构包括光源,光栅板,光敏元件,透镜,信号处理装置等,使用时通过光源投射激光止待测物并通过分析反射光达到确定位移的目的,品牌AMAT,型号:0190-A7370)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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晶片感测器(品牌:SUNX,利用光学射线原理感应晶片的前方是否有障碍物,晶片缺陷检测仪用,含光源发射和接收两个部件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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洁净度检测仪,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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光学测试设备（旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体检测仪（旧）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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间距测试设备（旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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线宽测试仪（旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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10CM积分球（旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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自动光学检测仪器（成套散件）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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传感器（多功能数码机零件）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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双通道激光能量计（带探头）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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CCD影像机（光学检测模组）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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光程差测试器（旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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阳光模拟器（太阳能组件IV测试）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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数字化激光雷达测量系统(旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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光学透视检测仪（内含墨水）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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