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90314

其他光学仪器及器具:

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高精度三维表面测量仪系统(品牌:TAYLOR HOBSON) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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照度计(品牌OAI,用于检测晶片表面的光亮度 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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照度计(品牌USHIO,用于检测晶片表面的光亮度 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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位置感应器(品牌ROCHE,通过光线变化感应运动部件 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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轮廓投影仪/品牌:NIKON,型号:V-20B 9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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薄膜应力分布测试仪(品牌:东朋.株式会社) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(电子皮带称零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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检测器(用于光电检测,仪器零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸. 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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激光传感器/品牌KEYENCE/有测试结果/显示距离值等 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光学传感器(品牌ROCHE,光束遮挡检测位置,无测试结果显 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光学传感器(品牌ROCHE,光束反射检测位置,无测试结果显 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电探测器(品牌SEMILAB,用于探测光电强度,硅晶片测试 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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位置感应器(品牌ROCHE,通过光线变化感应运动部件位置, 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号传感器(品牌RUDOLPH,感应光信号并转换传输部件 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光泽仪,品牌:GRETAGMACBETH,用于定量测试头发表面的光 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(品牌ROCHE,通过光电转化原理传递试剂余量的信 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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感应器(品牌ROCHE,通过光线变化感应位置,罗氏全自动样本处理系统,无测试结果,无显示指标) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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厚度探测器(品牌:KLA-TENCOR,通过检测激光强度,用于探测碟片厚度,含激光发射和接收两个部件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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