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9031

本章其他税号未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪:

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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺,测量同电机运动的线性位移量,检测对象电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺,测量出电机运动的线性位移量,检测对象电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象电机机械运动位移量,无测量结果显示) 9031492000 [税目]
光栅测量装置 [第90章其他品目未列名的]
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支撑件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,铝合金制,机台内支撑平台用,制成特殊形状) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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顶针(品牌:SHINKO,晶片缺陷检测仪专用零件,制成特定 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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托盘(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,制成特定 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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夹具(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,制成特定 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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挡光件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,特定形状,安装在聚焦光路的特定位置,防止内部光的外溢,铝合金制) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光孔(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,不锈钢制,用于一部分可见光射入,制成特殊形状) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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校准仪(专用于物理沉淀,品牌APPLIED MATERIALS,用于校准水平高度,无测试结果显示) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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位置传感器(品牌:安捷伦,色谱仪用零件,用于感应和传输机台门开闭信号) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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位置传感器(品牌:安捷伦,色谱仪用零件,用于感应和传输机台进样瓶位置信号) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等通用传感器,品 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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端口扩展卡(品牌:IBM,晶片缺陷检测仪专用零件,用于机台拓展信号端口,将端口拓展成2个端口,无独立功能) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光电传感器(品牌VERITY INSTRUMENTS,制造半导体的刻蚀专用零件,感应并传输机台内光电信号) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(品牌TEL,制造半导体的刻蚀专用零件,感应并传输机台内光电信号) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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校准仪(专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备,品牌APPLIED MATERIALS,用于半导体设备生产中的晶圆方向的预设及方向校正,无测试结果显示) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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铅垂(TAJIMA牌,构成特定形状,垂直测定工具专用零件) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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反射平台(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,铝制,带马达和装配的反射镜,用于机台内反射激光) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光电传感器(品牌:技研,制造平板显示器的真空镀膜设备专用零件,用于感应光电信号并传输) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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