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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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半导体电路测试仪 9030820000 [税目]
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元器件参数测试仪 9030820000 [税目]
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变压器参数测试仪 9030820000 [税目]
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变压器自动测试仪 9030820000 [税目]
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继电保护测试仪 9030820000 [税目]
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晶体频率测试仪 9030820000 [税目]
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石英晶片频率测试仪 9030820000 [税目]
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雪崩能量测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶体测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶片测试仪 9030820000 [税目]
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晶体中间频率测试仪 9030820000 [税目]
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外延电阻率测试仪 9030820000 [税目]
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电磁干扰测试仪 9030820000 [税目]
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测试仪(旧,1996年) 9030820000 [税目]
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测试仪(旧,1995年) 9030820000 [税目]
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高频测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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集电测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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逻辑测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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芯片测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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膜厚测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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