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903089
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903084
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在"90308"里共515个搜索结果:
90308
其他仪器及装置:
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高精度功率
分析
仪
(有记录装置)
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
详情
半导体器件
分析
仪
/带记录装置
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
详情
HP牌频谱
分析
仪
主机
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
增益相位
分析
仪
PSIMETRIQ牌
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
详情
高采样率多通道逻辑
分析
仪
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
电池片电性能
分析
仪
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
详情
高性能串行误码
分析
仪
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
详情
在线式电网质量
分析
仪
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
1000H+电线测试
分析
仪
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
250B
校准
套件
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
详情
校准
测试系统
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
详情
触发模块
校准
平台
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
线圈
校准
测试机
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
半导体参数
分析
仪
;
分析
器件半导体特性;Agilent;带记录装置
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
详情
助听器测试系统
校准
套件
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
驻波比
校准
测试系统
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
详情
通用
校准
器及配件
9030899010
[税目]
中子探测和测量仪表 [专用于测定核反应堆堆芯内中子通量的]
13%
3
详情
逻辑
分析
仪
(标配两根采集探头P5910)
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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数字化波形
分析
仪
/型号:PXIe-8820/1078/5122/5412
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
详情
便携式数据采集
分析
仪
/型号:SCM02+Test.Xpress
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
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