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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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控制器(自动控制机械臂的运动,主要组成部分包括检测部分,比对部分及启停部分,制造半导体器件设备用,品牌KAWASAKI,闭环控制,单独进口)
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9032899099 [税目]
其他自动调节或控制仪器及装置
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13%
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详情
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恒压器(用于制造半导体器件设备,品牌APPLIED MATERIALS,保持压力稳定在一定的范围值内,自动控制带调整,闭环控制,不与执行机构进口时装在一起)
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9032200000 [税目]
恒压器
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13%
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详情
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控制器(自动控制马达的运转位置,制造半导体器件设备上用,组成部分包括检测部,比对部及启停部,品牌NSK,闭环控制,单独进口)
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第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
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90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
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9032890090[税目]
其他自动调节或控制仪器及装置
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详情
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9032899090[税目]
其他自动调节或控制仪器及装置
[无]
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13%
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详情
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13%
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详情
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内引线键合拉力及芯片剪切力测试仪;将力学信号转为电子信号,分析数据;芯片电极;DAGE;测试实验室半导体器件焊接牢固性
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,通过光电转换原理将电子信号收集后放大转换成图像信息,品牌:应用材料定制,型号:0241-58455,非简易二极管或者光电耦合器)
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9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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校准仪(专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备,品牌APPLIED MATERIALS,用于半导体设备生产中的晶圆方向的预设及方向校正,无测试结果显示)
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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控制器(自动控制马达转速并将其恒定于事先设定的值,组成部分包括检测,比对,调节装置,自动调整偏差,制造半导体器件设备用,品牌MIC,闭环控制,单独进口)
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第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
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90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
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9032890090[税目]
其他自动调节或控制仪器及装置
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详情
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9032899090[税目]
其他自动调节或控制仪器及装置
[无]
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13%
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详情
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13%
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详情
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温测仪信号接收器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机,品牌AKT,原理是收集温度信息并转化成显示器可以识别的电信号,不可直接读数)
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第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
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90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
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9025191000[税目]
非液体的工业用温度计及高温计
[无]
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13%
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详情
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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