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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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船载自动气象站;用于船舶走航时观测海面气象;Campbell;利用各种气象传感器收集数据,通过线性化和定量化处理转换各个气象要素
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9015800090 [税目]
其他测量仪器及装置
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13%
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物性测试仪;SMS;利用测试臂的应力感应元测量探头受力情况并通过软件分析;检测食品的嫩度,硬度
等物性指标
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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脊柱外科用工具(Pangea带螺纹动力装置)
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第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
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90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
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9018909090[税目]
其他医疗、外科或兽医用仪器器具的零件及附件
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13%
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6
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齿轮单齿淬火感应器
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9033000090 [税目]
第90章其他编号未列名零、附件
[指第90章所列机器、器具、仪器或装置用]
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13%
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压力传感器/未带计量装置
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9026201090 [税目]
其他压力、差压变送器
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13%
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光电传感器(品牌TKL,通过光学原理感应并传输机台内光电信号,制造半导体的刻蚀机用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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光电传感器(品牌TEL,通过光学原理感应并传输机台内光电信号,制造半导体的刻蚀机用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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平带传动模块FALT BELT DRIVE
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9010909000 [税目]
其他洗印用装置的零件、附件
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13%
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晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测仪用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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压电陶瓷高加速度传感器;利用弹簧质量系统原理,测量物体的机械运动;PCB;测定结构或部件的动态特性的改进结构设计,提高抗振能力
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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晶圆吸附器(ASML,不锈钢制,利用真空吸附原理使硅片吸附在硅片平台上,以检测晶圆曝光质量,硅片晶圆检测仪专用零件,无测试结果,不显示指标)
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9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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晶片感测器(品牌:SUNX,利用光学射线原理感应晶片的前方是否有障碍物,晶片缺陷检测仪用,含光源发射和接收两个部件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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