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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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基板外观检查装置(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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轴间隙光学检测装置(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧自动寸法测定装置
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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连接原件光学检测装置(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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纤维网在线摄像检验装置(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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(旧)SSC槽口纸检查装置
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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(旧)CO2槽口纸检查装置
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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测试机(旧),用于测试集成电路,AGILENT牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:E6978B,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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测试机(旧),用于测试集成电路,CREDENCE牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:QUARTET ONE,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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银端子测定用画像处理装置(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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集成电路用溅射靶材分析检测系统(旧)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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手持式光学光笔测量系统（旧）
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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颗粒测试仪(旧)/检测硅片表面颗粒情况
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧硅片膜厚测试仪/七成新
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧硅片厚膜测试仪/七成新
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧芯片翘曲度测试仪/七成新
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧晶片表面缺陷测试仪,原价JPY3000000/台
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧晶片表面缺陷测试仪,原价JPY300000/台
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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彩色图像亮度和色度测试仪/旧/航材
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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旧晶片表面缺陷检测仪,原价JPY1000000/台
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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