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9031

本章其他税号未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪:

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冷热板;Ugo Basile Srl;半导体控温;测试热敏痛阈值 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO 9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,钢铁制 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统, 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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基准片,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,NANO牌 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统, 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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带记录装置的检测半导体晶体电压电流的仪器 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1R36-000001-11) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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超声波扫描检测系统;SONIX;超声波扫描成像;IT行业,检测半导体封装产品是否存在刮伤、黑点、异物等 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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遮光器,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,光路切换用 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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HCL位置传感器(品牌:FMK-SATEL,制造半导体的扩散炉专用零件,用于感应传输HCL位置信号) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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1/f噪声测试系统;Cascade;用于测试SOI器件的1/f噪声;半导体晶圆等电子器件噪声参数测试;噪声参数测试 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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探针台;测量半导体电子元器件的电性能;微观成像观察并测量相关电学属性;Swin;光学显微成像结合电学测量 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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平衡试验 9031100090 [税目]
其他机械零件平衡试验机
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灯检 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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纸钞 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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氦气 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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调整 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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分光 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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纯水 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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