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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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通道便携式逻辑分析仪（旧） 9030820000 [税目]
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温度特性测试系统（旧） 9030820000 [税目]
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OCXO老化测试系统（旧） 9030820000 [税目]
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OCXO终检测试系统（旧） 9030820000 [税目]
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OCXO波形测试系统（旧） 9030820000 [税目]
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OCXO拐点测试系统（旧） 9030820000 [税目]
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OCXO中间测试系统（旧） 9030820000 [税目]
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OCXO数模转换测试台（旧） 9030820000 [税目]
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OneTouch ES浓缩系统（旧） 9030820000 [税目]
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旧半导体集成电路测试机 9030820000 [税目]
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存储器测试设备(旧,1997,1998,一成新) 9030820000 [税目]
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存储器测试设备(旧,2004,三成新) 9030820000 [税目]
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半导体参数分析仪（旧）/残值率10%,原价HK$56972.79 9030820000 [税目]
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集成电路工艺制造用测试仪（旧）/测试硅片电特性 9030820000 [税目]
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晶体管图示仪（旧）/残值率10%,原价HK$72168.96 9030820000 [税目]
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测试探针台（旧）/通过调整探针头测电容电阻电压等 9030820000 [税目]
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中间测试机 9030820000 [税目]
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开关寿命试验机 9030820000 [税目]
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电子专用测试机 9030820000 [税目]
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半导体二极管测试机 9030820000 [税目]
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