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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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半导体晶圆特性参数测试设备 9030820000 [税目]
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旧半导体集成电路测试机 9030820000 [税目]
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半导体测试治具/NVIDIA牌 9030820000 [税目]
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半导体晶片自动测试仪（旧） 9030820000 [税目]
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Eagle半导体晶片测试仪器（旧） 9030820000 [税目]
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半导体晶片四探针电阻率测试仪 9030820000 [税目]
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半导体参数分析仪;分析器件半导体特性;Agilent;带记录装置 9030820000 [税目]
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半导体太阳能电池用加速紫外老化测试系统 9030820000 [税目]
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半导体特性分析系统（带记录装置） 9030820000 [税目]
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半导体芯片和集成电路可焊性(焊接能力)测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶片测试仪/变温霍尔效应测试仪 9030820000 [税目]
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半导体环境光与接近光传感器测试仪 9030820000 [税目]
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变压器专用测量仪 9030820000 [税目]
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集成电路工艺制造用测试仪（旧）/测试硅片电特性 9030820000 [税目]
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低泄漏开关;测量半导体晶圆上必要参数;对半导体器件进行测试;AGILENT 9030820000 [税目]
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半导体参数分析仪（旧）/残值率10%,原价HK$56972.79 9030820000 [税目]
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测试机,用途:测试集成电路芯片,品牌:TERADYNE,功能:测试集成电路芯片,是否带记录装置:是,有无测试结果显示:有,显示何种指标:合格或不合格 9030820000 [税目]
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干式变压器专用控制仪表 9030820000 [税目]
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用于半导体器件老化测试的老化台 9030820000 [税目]
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芯片测试系统(由芯片测试主机及专用工作站构成) 9030820000 [税目]
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