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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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线性光栅尺/测贴片机移动位置用
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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光栅尺,化学气相沉积设备用,品牌MIRAE,无测试结果
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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量块检测仪;检定校准100mm以下量块量规尺寸;光栅传感器为读数基准,光栅尺通过读数头与主尺间的位移变化计数检定量规;FEINMESS
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9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器
[指第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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