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90314990

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厚度探测器(品牌:KLA-TENCOR,通过检测激光强度,用于探测碟片厚度,含激光发射和接收两个部件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(数码印刷机零件IGEN3的零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(数码印刷机零件DT120CP的零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光电传感器(放射扫描系统零件,光电检测检测片盒,品 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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零件光学检测仪 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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零件光学检查仪 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(数码印刷机零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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专用传感器(打印机零件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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照相机快门零件(传感器) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BRILL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌LEVANON,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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光信号传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,用于感测并传输光信号,无信号转换部件) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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零件定向检测仪 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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