|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
电池模块电压测定装置
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
二次电池性能检测装置
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电池测试仪(带记录装置)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
可打印的电池测试仪
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
原电池及二次电池测试仪
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
能源回收式电池模组测试系统
|
第18类
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品
|
|
|
|
|
90
光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
|
|
|
|
|
|
13%
|
|
|
详情
|
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电池测试系统/不带记录装置
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电池自动化充放电测试主机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电压、电流检测装置(电池传感器)
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
500节点电池运行状况自动检测装置
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
442节点电池运行状况自动检测装置
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
大型电池充放电性能测试设备
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
单体电池在线充放电活化仪
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
自动电池性能检查机/带记录装置
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电池性能检查装置用电压检查单元
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
非自动电池性能检查机/带记录装置
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
太阳电池I-V测试仪;Yamashita Denso;对电池的参数测量
|
9030339000 [税目]
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器
[用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电子负载测试系统;测试存储设备电池性能;提供恒压恒流等输出;CHROMA;带记录装置
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线路板用泛用测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|