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90308
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Arbin-MSTAT型电池
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9030849000
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测试
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9030820000
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13%
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测试
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9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
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测试
站(旧)
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
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机
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
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测试
机
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
计
9030841000
[税目]
电感及电容测试仪 [装有记录装置的]
13%
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LED高压单晶电性
测试
机
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
详情
ALS线型混合信号
测试
机
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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移动终端核心芯片
测试
系统
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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55纳米芯片
测试
探针台
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
系统
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
机
9030849000
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [装有记录装置的]
13%
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测试
治具
9030899090
[税目]
其他电量的测量或检验仪器及装置 [未装有记录装置的]
13%
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测试
的老化台
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
机
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
机
9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
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9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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测试
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9030820000
[税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器
13%
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通用型磁环
测试
分选机
9030841000
[税目]
电感及电容测试仪 [装有记录装置的]
13%
详情
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