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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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半导体检查装置
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体硅片检查仪
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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飞针半导体测试仪
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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半导体薄膜厚度测试仪
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体晶片检测机
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体加工测试仪
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光电传感器(品牌TKL,通过光学原理感应并传输机台内光电信号,制造半导体的刻蚀机用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光电传感器(品牌TEL,通过光学原理感应并传输机台内光电信号,制造半导体的刻蚀机用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体激光光束测试系统
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体缺陷测试检测仪
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体检测仪（旧）
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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岛津红外半导体检测仪
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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半导体晶片光学检测仪(旧)
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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自动评价测试仪/蓝光光盘生产用
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9031499010 [税目]
光盘质量在线检测仪及离线检测仪
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13%
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自动光学检测仪(旧/生产年限2005年1月,可使用15年)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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传感器(数码印刷机零件IGEN3的零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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传感器(数码印刷机零件DT120CP的零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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详情
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零件光学检测仪
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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