|
|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BUCHANAN,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SINFONIA,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌SEMITOOL,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌BAY ADVANCED,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光信号传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,用于感测并传输光信号,无信号转换部件)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
激光测振仪;用于新型号卫星设计过程中的结构动力学试验;POLYTEC;实现对振动信号的非接触式测量
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
测试机(旧),用于测试集成电路,AGILENT牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:E6978B,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标
|
9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
测试机(旧),用于测试集成电路,CREDENCE牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:QUARTET ONE,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标
|
9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
照度计(品牌OAI,用于检测晶片表面的光亮度,通过测光探头吸光后把光能转换成电能在界面上产生光电效应,从而测的数据)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
照度计(品牌USHIO,用于检测晶片表面的光亮度,通过测光探头吸光后把光能转换成电能在界面上产生光电效应,从而测的数据)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
太赫兹准光功率计（不带记录装置）
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光电传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,感应并传输光电信号,带电缆)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光电传感器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,感应光电信号并传输,带电缆)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
光电传感器(品牌:KLA-TENCOR,带电缆,晶片缺陷检测仪用零件,感应并传输光电信号)
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌CYMATIX,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
|
9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
洁净度检测仪,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级
|
9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
|
13%
|
|
|
详情
|