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申报实例
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商品编码
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出口退税率
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监管条件
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检验检疫
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更多信息
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激光能量测量器(品牌GENTEC,激光钻孔加工系统用,通过射入的激光经光电转换为电压信号输出到系统,系统通过电压数值计算出激光能量)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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晶片感测器(品牌:SUNX,利用光学射线原理感应晶片的前方是否有障碍物,晶片缺陷检测仪用,含光源发射和接收两个部件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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高精度三维表面测量仪系统(品牌:TAYLOR HOBSON)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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照度计(品牌OAI,用于检测晶片表面的光亮度
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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照度计(品牌USHIO,用于检测晶片表面的光亮度
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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位置感应器(品牌ROCHE,通过光线变化感应运动部件
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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轮廓投影仪/品牌:NIKON,型号:V-20B
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9031491000 [税目]
轮廓投影仪
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13%
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薄膜应力分布测试仪(品牌:东朋.株式会社)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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化学气沉积装置用零件感应器
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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传感器(电子皮带称用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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检测器(用于光电检测,仪器用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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传感器(安必昂牌,贴片机专用零件)
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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激光传感器/品牌KEYENCE/有测试结果/显示距离值等
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光栅尺,化学气相沉积设备用,品牌MIRAE,无测试结果
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9031492000 [税目]
光栅测量装置
[第90章其他品目未列名的]
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13%
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光学传感器(品牌ROCHE,光束遮挡检测位置,无测试结果显
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光学传感器(品牌ROCHE,光束反射检测位置,无测试结果显
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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详情
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光电探测器(品牌SEMILAB,用于探测光电强度,硅晶片测试
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
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9031410000 [税目]
制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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位置感应器(品牌ROCHE,通过光线变化感应运动部件位置,
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9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具
[第90章其他税目未列名的]
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13%
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