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90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

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半导体特性测试系统 9030820000 [税目]
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半导体晶体测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶片测试仪 9030820000 [税目]
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检测半导体晶片仪器 9030820000 [税目]
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半导体晶片测试系统 9030820000 [税目]
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半导体测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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半导体测试仪(含附件) 9030820000 [税目]
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硅半导体测试仪 9030820000 [税目]
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半导体芯片测试仪 9030820000 [税目]
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半导体波形测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶片测试仪(旧) 9030820000 [税目]
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半导体参数测试仪 9030820000 [税目]
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半导体闸流管测试仪 9030820000 [税目]
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半导体热特性测试仪 9030820000 [税目]
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半导体振荡器测试仪 9030820000 [税目]
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半导体霍尔效应测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶片参数测试仪 9030820000 [税目]
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半导体晶体功能测试仪 9030820000 [税目]
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半导体开关参数测试仪 9030820000 [税目]
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半导体元件在线测试仪 9030820000 [税目]
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