过滤过期编码

在"90308200"里共58个搜索结果:

90308200

测试或检验半导体晶片或器件用

申报实例 商品编码 出口退税率 监管条件 检验检疫 更多信息
主板芯片用测试板 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
检测半导体芯片用仪器 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
发光二极管芯片点测机 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
X射线芯片检测仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体芯片在线测试仪器 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
旧芯片测试机(6成新) 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
usb控制芯片验证测试套装 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体/电子芯片三维在线检测系统 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
移动终端核心芯片探针系统 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
移动终端核心芯片测试系统 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
55纳米芯片测试探针台 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
芯片测试系统(由芯片测试主机及专用工作站构成) 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
半导体芯片和集成电路可焊性(焊接能力)测试仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
测试机,用途:测试集成电路芯片,品牌:TERADYNE,功能:测试集成电路芯片,是否带记录装置:是,有无测试结果显示:有,显示何种指标:合格或不合格 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
用于半导体器件老化测试的老化台 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
检测半导体晶片或器件的仪器 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
无独立使用功能的半导体测试机 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情
阻抗谱仪系统分析仪 9030820000 [税目]
测试或检验半导体晶圆或器件用的仪器 		13% 详情