|
|
|
|
|
|
|
|
申报实例
|
商品编码
|
出口退税率
|
监管条件
|
检验检疫
|
更多信息
|
|
2877全自动介质损耗测试仪主机(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
介入高压测试记录系统(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
驾驶辅助系统测试套装(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
第一代产品电子检测装置(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
脉冲测试仪(带记录装置)(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
旧膜层电阻测试仪/七成新
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
2877全自动介质损耗测试仪主机(旧)(修理费)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
三轮盘(水平式)温度筛选器/喂料振动盘(旧)
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
测定机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
耐压测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
送丝机用测试仪
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
电路板检测机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
逆变器自动测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
耐电压检查机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
阵列检查机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
热敏打印头检测机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
摄像头功能测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
晶圆测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
全自动通用测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|
|
定子耐压测试机
|
9030390000 [税目]
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器
[万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外]
|
13%
|
|
|
详情
|