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申报实例
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监管条件
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检验检疫
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FLEX直流源信号板(电路板),进行多路电流和时间测量的多重测试(适用于FLEX测试机),泰瑞达
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9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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13%
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FLEX直流源信号板(电路板),对器件进行多路电流和时间测量的多重测试(适用于FLEX测试机),泰瑞达
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9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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13%
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UltraFlex波形发生电路板(电路板);产生最高6千兆的任意波形进行模拟功能测试(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达
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9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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J750校准板(电路板),提供标准数据作为系统校准和故障诊断的工具(适用于J750测试机),泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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MICROFLEX系统监控和控制板(电路板);监控和控制系统基本的硬件工作情况(适用于测试机MICROFLEX微波测试系统);泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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CATALYST任意波形发生板(电路板);根据器件的要求来输出任意波形供器件使用以完成测试(适用于CATALYST测试机);泰瑞达
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[包括附件]
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FLEX系统监控板(电路板),对各个电源和信号进行测量数据然后跟允许范围进行比对(适用于FLEX测试机),泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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ULTRAFLEX PUMA系统监控板托盘(电路板);监视系统正常工作,出现异常时关闭系统电源(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达
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[包括附件]
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ULTRAFLEX直流源信号板(电路板);包含20个测量通道,进行多路电流和时间测量的多重测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达
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[包括附件]
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ULTRAFLEX高速数字信号测试板(电路板);可产生最高1G赫兹的数字信号,对半导体及集成电路进行测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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J750 800兆数字信号通道板,测试时根据器件要求给器件提供数字信号,最高速率800铛赫兹(适用于J750测试机),泰瑞达
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J750 800兆数字信号通道板,测试时根据器件要求给器件提供数字信号,最高速率800兆赫兹(适用于J750测试机),泰瑞达
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[包括附件]
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ULTRAFLEX基频模拟电路板(电路板);产生精确基频模拟信号，频率最高80兆赫兹(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达
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ULTRAFLEX 8G高速内存测试数字通道板(电路板);提供8G数据带宽,160个单个或差分数字信号通道(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达
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ULTRAFLEX高频信号测试板(电路板);产生400MHz的中高频模拟信号,将被测试器件降频到20MHz进行测量(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达
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J750混合信号测试数字测试部分通道板(电路板);被测器件的模拟信号做数模转换后输送到计算机上计算,用于测试半导体晶元(适用于J750测试机);泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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UltraFlex任意波形发生器6G(电路板);可提供频率为400M到6G的任意波形,每个选件含有8个模拟通道(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
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FLEX射频信号测试模组2(电路板);将信号进行电平调整传送给射频模组1中的八断口板使用(适用于FLEX测试机);泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
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FLEX射频信号测试模组1(电路板);将55MHZ至66MHZ的信号转换为数字模拟测试可用的信号(适用于FLEX测试机);泰瑞达
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检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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ULTRAFLEX测试中高频信号电路板(电路板);产生800MHz的高频模拟信号,将被测试器件降频到50MHz(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达
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9030900001 [税目]
检测半导体晶片及器件的仪器零件
[包括附件]
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