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9031

本章其他税号未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪:

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传感器放大器/基组件导通性能检查机用 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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数据信号分析(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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数据信号分析(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪 9031900090 [税目]
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YRA门饰支架模型检具检测副支架 9031900090 [税目]
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金属检测仪金检头用输出电容电阻模块 9031900090 [税目]
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测试修理费(旧半导体器件光学测试封装机部件) 9031900090 [税目]
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数据信号分析(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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信号转接/元件六面外观光学检测机配件 9031900090 [税目]
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(专用于硅晶片测试仪,不锈钢制,品牌SEMILAB,用于 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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固定(ASML,硅片线宽测量仪专用零件,起到将测量仪固定支撑在测量平台上的作用) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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传感器(TEL,制造半导体的匀胶机专用零件,感应并传输基的位置信号) 9031809090 [税目]
其他测量、检验仪器、器具及机器 [指第90章其他税目未列名的]
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信号接口(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,用于主机和检测器之间的信号连接) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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固定(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,已制成特定形状,塑料制,用于机台内安插固定电路板) 9031900090 [税目]
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数据信号分析(品牌:IBM,晶片缺陷检测仪专用零件,用于对检测到的晶片缺陷数据进行分析处理存储并传输) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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数据信号分析(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,用于对检测到的晶片缺陷数据进行分析处理存储并传输) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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晶片缺陷数据信号分析(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,用于对检测到的晶片缺陷数据进行分析处理及传输) 9031900090 [税目]
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透光(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,已制成特定形状,不锈钢制,安装在激光器前端,用于透光) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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数据信号分析(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,用于对检测到的晶片缺陷数据进行分析处理并传输) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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测量信号传输(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,已制成特定形状,安装在测量平台上直接接触晶片,用于将被测晶片的测量信号传输给机台) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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光学位移感应器(组成结构包括光源,光栅,光敏元件,透镜,信号处理装置等,使用时通过光源投射激光止待测物并通过分析反射光达到确定位移的目的,品牌AMAT,型号:0190-A7370) 9031499090 [税目]
其他光学测量或检验仪器和器具 [第90章其他税目未列名的]
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