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90319000

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偏光(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,用于改变光路偏转角度,用来测量晶圆表面膜厚) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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图像采集(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由感光元件,电路板,风扇和保护盖组成,用于采集晶片的表面图像信息) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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图像采集(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由感光元件,电路板,风扇,和保护盖组成,用于采集晶片的表面图像信息) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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偏光(品牌:CVI,晶片缺陷检测仪专用零件,将接收的普通散射光源转换成偏振光,供机台检测用) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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端口扩展(品牌:COMTROL,晶片缺陷检测仪专用零件,用于拓展信号端口,将1个端口拓展成8个端口,无独立功能) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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滤光组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,由滤光镜组,震荡和固定框架组成,用于过滤部分可见光,达到检测最佳光源) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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图像采集(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由灯,镜头,电路板,CCD模块和保护盖组成,用于采集晶片的表面图像信号) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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偏光组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由偏光镜和马达,固定框架组成,将普通光源发出的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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偏振组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由固定底座,固定框架,偏振镜和马达组成,将普通光源发出的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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偏振组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由固定底座,固定框架,偏振镜,传感器,电路板和马达组成,将普通光源发生的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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分光组件(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,由分光镜,感光,固定框架和固定底座组成,用于将一束光分成两束光,达到检测最佳光源) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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晶圆吸附(ASML,不锈钢制,利用真空吸附原理使硅片吸附在硅片平台上,以检测晶圆曝光质量,硅片晶圆检测仪专用零件,无测试结果,不显示指标) 9031900090 [税目]
品目9031的仪器及器具的其他零件 [第90章其他品目未列名的]
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